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Scheda Riassuntiva
Anno Accademico 2014/2015
Scuola Scuola di Ingegneria Industriale e dell'Informazione
Insegnamento 089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Docente Del Zoppo Mirella Elvira Angela
Cfu 5.00 Tipo insegnamento Monodisciplinare

Corso di Studi Codice Piano di Studio preventivamente approvato Da (compreso) A (escluso) Insegnamento
Ing Ind - Inf (1 liv.)(ord. 270) - MI (348) INGEGNERIA DEI MATERIALI E DELLE NANOTECNOLOGIE* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Ing Ind - Inf (1 liv.)(ord. 270) - MI (363) INGEGNERIA BIOMEDICA* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Ing Ind - Inf (Mag.)(ord. 270) - MI (401) INGEGNERIA BIOMEDICA* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Ing Ind - Inf (Mag.)(ord. 270) - MI (471) BIOMEDICAL ENGINEERING - INGEGNERIA BIOMEDICA* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI

Programma dettagliato e risultati di apprendimento attesi

- Obiettivi e contenuti del corso
Il corso ha lo scopo di fornire i principi fisici su cui si basano alcune fra le più diffuse tecniche di caratterizzazione dei materiali e delle superfici evidenziandone potenzialità e limiti di applicazione. Per ogni tecnica verrà inoltre fornita una descrizione dell’apparato sperimentale.
Verranno considerati diversi livelli di caratterizzazione: strutturale, morfologica, composizionale.
Argomenti trattati:
Introduzione alle tecniche di caratterizzazione dei materiali
Tecniche strutturali: diffrazione X per la determinazione di strutture cristalline 3D; estensione al caso delle superfici: definizione di superfici ideali e reali, rilassamento, ricostruzione e diffrazione elettronica (LEED)
Microscopie: cenni di microscopia ottica; microscopia elettronica a scansione (SEM) e microanalisi X; microscopia elettronica a trasmissione (TEM).
Caratterizzazione composizionale: spettroscopie elettroniche: XPS e spettroscopia Auger; spettroscopia vibrazionale infrarossa (assorbimento e riflessione ATR, RAIRS, DRIFT )e Raman 



 

 

 


Note Sulla Modalità di valutazione

Prova scritta e esame orale facoltativo


Bibliografia
Risorsa bibliografica obbligatoriaJ.C. Vickerman, Ed., Surface Analysis: The principal techniques , Editore: Wiley
Note:

Cap. 3, 4, 7 e 8

Risorsa bibliografica obbligatoriaD. Brandon and W.D. Kaplan, Microstructural Characterization of Materials , Editore: Wiley
Note:

Cap. 4 e 5


Mix Forme Didattiche
Tipo Forma Didattica Ore didattiche
lezione
32.0
esercitazione
24.0
laboratorio informatico
0.0
laboratorio sperimentale
0.0
progetto
0.0
laboratorio di progetto
0.0

Informazioni in lingua inglese a supporto dell'internazionalizzazione
Insegnamento erogato in lingua Italiano
schedaincarico v. 1.6.1 / 1.6.1
Area Servizi ICT
27/01/2020