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Scheda Riassuntiva
Anno Accademico 2014/2015
Scuola Scuola di Ingegneria Industriale e dell'Informazione
Insegnamento 089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Docente Del Zoppo Mirella Elvira Angela
Cfu 5.00 Tipo insegnamento Monodisciplinare

Corso di Studi Codice Piano di Studio preventivamente approvato Da (compreso) A (escluso) Insegnamento
Ing Ind - Inf (1 liv.)(ord. 270) - MI (348) INGEGNERIA DEI MATERIALI E DELLE NANOTECNOLOGIE* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Ing Ind - Inf (1 liv.)(ord. 270) - MI (363) INGEGNERIA BIOMEDICA* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Ing Ind - Inf (Mag.)(ord. 270) - MI (401) INGEGNERIA BIOMEDICA* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
Ing Ind - Inf (Mag.)(ord. 270) - MI (471) BIOMEDICAL ENGINEERING - INGEGNERIA BIOMEDICA* AZZZZ089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI

Programma dettagliato e risultati di apprendimento attesi

- Obiettivi e contenuti del corso
Il corso ha lo scopo di fornire i principi fisici su cui si basano alcune fra le più diffuse tecniche di caratterizzazione dei materiali e delle superfici evidenziandone potenzialità e limiti di applicazione. Per ogni tecnica verrà inoltre fornita una descrizione dell’apparato sperimentale.
Verranno considerati diversi livelli di caratterizzazione: strutturale, morfologica, composizionale.
Argomenti trattati:
Introduzione alle tecniche di caratterizzazione dei materiali
Tecniche strutturali: diffrazione X per la determinazione di strutture cristalline 3D; estensione al caso delle superfici: definizione di superfici ideali e reali, rilassamento, ricostruzione e diffrazione elettronica (LEED)
Microscopie: cenni di microscopia ottica; microscopia elettronica a scansione (SEM) e microanalisi X; microscopia elettronica a trasmissione (TEM).
Caratterizzazione composizionale: spettroscopie elettroniche: XPS e spettroscopia Auger; spettroscopia vibrazionale infrarossa (assorbimento e riflessione ATR, RAIRS, DRIFT )e Raman 



 

 

 


Note Sulla Modalità di valutazione

Prova scritta e esame orale facoltativo


Bibliografia
Risorsa bibliografica obbligatoriaJ.C. Vickerman, Ed., Surface Analysis: The principal techniques , Editore: Wiley
Note:

Cap. 3, 4, 7 e 8

Risorsa bibliografica obbligatoriaD. Brandon and W.D. Kaplan, Microstructural Characterization of Materials , Editore: Wiley
Note:

Cap. 4 e 5


Software utilizzato
Nessun software richiesto

Mix Forme Didattiche
Tipo Forma Didattica Ore didattiche
lezione
32.0
esercitazione
24.0
laboratorio informatico
0.0
laboratorio sperimentale
0.0
progetto
0.0
laboratorio di progetto
0.0

Informazioni in lingua inglese a supporto dell'internazionalizzazione
Insegnamento erogato in lingua Italiano
schedaincarico v. 1.6.8 / 1.6.8
Area Servizi ICT
27/09/2021