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Risorsa bibliografica obbligatoria |
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Risorsa bibliografica facoltativa |
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Anno Accademico
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2014/2015
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Scuola
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Scuola di Ingegneria Industriale e dell'Informazione |
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Insegnamento
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089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI
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| Docente |
Del Zoppo Mirella Elvira Angela
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| Cfu |
5.00
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Tipo insegnamento
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Monodisciplinare
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| Corso di Studi |
Codice Piano di Studio preventivamente approvato |
Da (compreso) |
A (escluso) |
Insegnamento |
| Ing Ind - Inf (1 liv.)(ord. 270) - MI (348) INGEGNERIA DEI MATERIALI E DELLE NANOTECNOLOGIE | * | A | ZZZZ | 089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI | | Ing Ind - Inf (1 liv.)(ord. 270) - MI (363) INGEGNERIA BIOMEDICA | * | A | ZZZZ | 089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI | | Ing Ind - Inf (Mag.)(ord. 270) - MI (401) INGEGNERIA BIOMEDICA | * | A | ZZZZ | 089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI | | Ing Ind - Inf (Mag.)(ord. 270) - MI (471) BIOMEDICAL ENGINEERING - INGEGNERIA BIOMEDICA | * | A | ZZZZ | 089253 - CARATTERIZZAZIONE E ANALISI DEI MATERIALI E DELLE SUPERFICI |
| Programma dettagliato e risultati di apprendimento attesi |
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- Obiettivi e contenuti del corso
Il corso ha lo scopo di fornire i principi fisici su cui si basano alcune fra le più diffuse tecniche di caratterizzazione dei materiali e delle superfici evidenziandone potenzialità e limiti di applicazione. Per ogni tecnica verrà inoltre fornita una descrizione dell’apparato sperimentale.
Verranno considerati diversi livelli di caratterizzazione: strutturale, morfologica, composizionale.
Argomenti trattati:
Introduzione alle tecniche di caratterizzazione dei materiali
Tecniche strutturali: diffrazione X per la determinazione di strutture cristalline 3D; estensione al caso delle superfici: definizione di superfici ideali e reali, rilassamento, ricostruzione e diffrazione elettronica (LEED)
Microscopie: cenni di microscopia ottica; microscopia elettronica a scansione (SEM) e microanalisi X; microscopia elettronica a trasmissione (TEM).
Caratterizzazione composizionale: spettroscopie elettroniche: XPS e spettroscopia Auger; spettroscopia vibrazionale infrarossa (assorbimento e riflessione ATR, RAIRS, DRIFT )e Raman
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| Note Sulla Modalità di valutazione |
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Prova scritta e esame orale facoltativo
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J.C. Vickerman, Ed., Surface Analysis: The principal techniques , Editore: Wiley
Note:Cap. 3, 4, 7 e 8
D. Brandon and W.D. Kaplan, Microstructural Characterization of Materials , Editore: Wiley
Note:Cap. 4 e 5
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| Nessun software richiesto |
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Tipo Forma Didattica
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Ore didattiche |
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lezione
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32.0
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esercitazione
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24.0
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laboratorio informatico
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0.0
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laboratorio sperimentale
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0.0
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progetto
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0.0
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laboratorio di progetto
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0.0
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| Informazioni in lingua inglese a supporto dell'internazionalizzazione |
Insegnamento erogato in lingua
Italiano
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